本文介绍含正反馈模拟电路中的直流简并点问题，并给出一种基于断环 DC 扫描的统一分析方法。通过比较返回电压 \(V_f=f(V_t)\) 与 \(V_f=V_t\) 的交点，可判断闭环电路可能存在的直流工作点，并利用交点处斜率进一步分析其直流稳定性。文章结合锁存器、带隙基准和全差分运放共模环路三个典型案例，说明错误稳定点的形成机制、直流稳定性与小信号稳定性的区别，以及启动电路和去简并设计的基本思路。